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      AOI設備在OLED及LCD制程中的應用分析及分類

      編輯:songqiuxia 2017-09-28 08:48:55 瀏覽:6047  來源:未知

        在整個平板顯示器件的生產過程中,檢測工序十分重要,遍布在各個環節。平板顯示檢測是平板顯示器件生產各制程中的必備環節,主要在LCD、OLED以及TouchPanel產品等平板顯示器件的生產過程中進行光學、信號、電氣性能等各種功能檢測。

        其主要用途為:

        1. 確認生產制程是否完好,在線監控整個生產制造工藝的可行性和穩定性;

        2. 根據檢測的結果來分辨平板顯示器件良品與否,避免不良品流入下道工序;

        3. 對每道工序上的不良品進行復判,確認維修或者報廢;

        4. 對維修后的不良品進行再次檢測;

        5. 幫助研發和品質部門評價質量水平,改善制程工藝和流程;

        6. 對不良品分類并加以解析,提升產線良品率。

        AOI(Automatic Optic Inspection)全稱自動光學檢測,是基于光學原理對生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備,是視覺檢測中一個相對標準化的分支。AOI主要用在PCB、FPD、半導體等行業。

         PCB:內外層線路檢測;在蝕刻工序之后進行檢測;

        FPD: MURA缺陷檢測;Color filter檢測;色度、膜厚、光學密度檢測;PI檢測、LC液晶檢測等;

        半導體:2D、3D檢測;晶圓外觀檢測、bumping檢查、IC封裝檢測;

        其他行業: Mircro crack檢查等;

        LCD領域-Array、CF、Cell、Module端: LCD產能全球向大陸轉移,面板尺寸持續升級;

        TP領域:主要包括Touch Sensor檢測和ITO玻璃的AOI設備、BM AOI設備和Film AOI等;

        OLED領域:OLED工序與LCD有部分差別,一條OLED線所需AOI設備約為LCD線的1.5-2倍;OLED良率低,對檢測要求更高,檢測設備單價平均增加20-30%。

        根據所處制程分類Array制程檢測系統:Array測試機、CF測試機、PS檢測系統、CF階差系統、Total Pitch檢測系統、AOI光學檢測系統等;

        Cell制程檢測系統:亮點檢測系統、AOI光學檢測系統、配向檢測系統等;

        Module制程檢測系統:點燈檢測系統、老化檢測系統等。

        根據對象類型分類:

        LCD檢測系統:液晶模組自動化檢測系統等

        PDP檢測系統:等離子模組自動化檢測系統等

        OLED檢測系統:OLED面板自動化檢測系統等

        Touch Panel檢測系統:TP功能檢測系統等

         根據檢測指標分類:

        信號檢測系統:LVDS信號檢測系統、DP信號檢測系統、MIDI信號檢測系統、V-By-One信號檢測系統、TTL信號檢測系統等

        畫面檢測系統:FLICKER自動調校裝置等

        電氣性能檢測系統:開短路測試裝置等

        應用于不同生產制程的平板顯示檢測系統技術原理差異較大,互相間無替代關系。

        Array制程主要是對玻璃基板的生產加工,該段制程的檢測主要是利用光學、電學原理對玻璃基板或偏光片進行各種檢測,如AOI光學檢測系統。

        Cell制程主要是在Array制程完成的玻璃基板的基礎上生成液晶面板,該段制程的檢測主要是利用電學原理對面板進行各種檢測,如亮點檢測系統、配向檢測系統等。

        Module制程主要是對面板加裝驅動芯片、信號基板、背光源和防護罩等組件,該段制程的檢測主要是利用電訊技術對面板或模組進行信號檢測。

        另外,隨著行業技術和平板顯示產品市場需求的發展,AOI光學檢測系統和Touch Panel檢測系統的應用領域也逐漸拓寬。

        TFT-LCD與AMOLED在檢測上的變化主要由于Array、Cell和Module工序上工藝的差別。最明顯的差別就是AMOLED由于工序的減少不需要基于CF基板和背光系統的檢測。

        TFT-LCD為代表的顯示面板生產過程主要分為三個工序:

        OLED生產過程與LCD有部分差別,一條OLED線所需AOI設備約為LCD線的1.5-2倍:

        OLED無需濾光片和背光模組,因此無CF AOI、CF AOI,CF Marco等設備;OLED由于工藝不同會產生蒸鍍混色,各類Mura缺陷更加嚴重,因此需要專門的Mura檢測設備,通過AOI檢測獲取亮度信號后,可根據檢測到的Mura進行光學補償消除缺陷。

        OLED良率低,對檢測要求更高,檢測設備單價平均增加20-30%。

        OLED與LCD主要在中后段工藝存在差異:

        LCD前段BP背板:清洗、成膜、曝光、顯影、刻蝕、剝離、褪火

        中段EL發光:TFT清洗、CF基板、PI、Rubbing、ODF、切割;

        后段模組封裝:COF/COG Bonding、FOG/PCB Bonding、背光組裝。

        OLED前段BP背板:清洗、成膜、曝光、顯影、刻蝕、剝離、褪火

        中段EL發光:TFT清洗、多次蒸鍍、封裝、切割

        后段模組封裝:COF/COG Bonding、FOG/PCB Bonding、Gamma tuning、貼合

      2010 - 2015 全球各制程檢測設備投資情況

       

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